關(guān)于SICK測量光柵電子樣本

關(guān)于SICK測量光柵電子樣本
特性規(guī)格：
MLG-2 能勝任zui艱巨的任務(wù)，可檢測包括不可見物體在內(nèi)的任何物體，并可依靠優(yōu)異的響應(yīng)速度、分辨率和光學(xué)技術(shù)，*檢測“不可見”物體 , 如快速移動 , 微小甚是透明物體。
同時，該產(chǎn)品更有西克一貫的高可靠性作為。
專門使用于物體有無、超限檢測、寬高測量、物體識別：巧妙的支架設(shè)計(jì)與直觀的設(shè)置顯示，快速完成安裝。
同時，光同步功能既可靠的測量，又極大節(jié)省布線的時間與成本。
憑借大幅改進(jìn)的光學(xué)器件，MLG-2 Prime可提供的、更小光軸間距、抗高亮反射物以及高光冗余量，使您的應(yīng)用更加可靠和。
MLG-2 Prime搭配IO-Link 1.1 接口，可提供改進(jìn)的數(shù)據(jù)傳輸、復(fù)制功能或設(shè)備狀態(tài)監(jiān)控等眾多，是更優(yōu)化的高性價比組合。
此外，MLG-2 Prime還可根據(jù)需求提供模擬量輸出和開關(guān)輸出。

關(guān)于SICK測量光柵電子樣本
快速的集成到系統(tǒng)中
集成CANOpen接口
精度可選 10 / 20 / 30 / 50 mm，且接受定制客戶化的精度要求
zui大 8.5 m的工作距離
檢測高度zui大可達(dá) 3 m 和zui多 240個光點(diǎn)
極短的響應(yīng)時間 < 9 ms
在復(fù)雜的應(yīng)用中可以通過示教算法進(jìn)行敏感度學(xué)習(xí)
測量光幕/測量光柵主要用于復(fù)雜的應(yīng)用場合。SICK測量光幕/測量光柵產(chǎn)品系列豐富，包含不同的光點(diǎn)間距，檢測高度和輸出類型。
可用在輸送帶上物體的分揀，自動化存儲和自動化檢索和全自動化的訂單處理系統(tǒng)。
例如在托盤測量檢定應(yīng)用中，托盤上物體的zui大高度和是否超限均可被檢測出來，且數(shù)據(jù)可以很簡便的通過總線傳送PLC控制器中。
MLG-2 系列具備的耐用和，無論您選擇哪些設(shè)備，都能全面滿足您的應(yīng)用要求。